关于凯特的膜厚计 膜厚计的种类和用途 对使用金属的工业产品,在表面进行涂饰和镀金等处理。在表面处理层中,薄的话容易产生腐蚀,厚的话经济损失会变大,而且厚度不一定的话会降低不美观的商品价值。也就是说,在涂饰和镀金方面正确管理厚度是很重要的,承担这一点的测定器是膜厚计。 根据素地金属和测定的涂层的组合,有测定原理不同的几种阵容,请选择合适的种类。 电磁膜厚计的测量原理 涡流膜厚计的测量原理 磁性核 使交流电磁铁接近铁(磁性金属)的话,根据接近距离,贯穿线圈的磁通数会发生变化,因此线圈两端的电压会发生变化。 从电流值读取该电压变化 取,换算成膜厚。 可以测量磁性金属上的非磁性涂层。 绝缘体铁芯 如果将流过一定高频电流的感应线圈靠近金属,金属表面会产生涡流。这个涡流根据感应线圈和金属面的距离而变化,因此感应线圈两端的电压也会变化。 将此变化从电流值转换为读取膜厚度。可以测量非磁性金属上的绝缘涂层。 磁场 二次线圈涂层磁性金属 磁场 皮膜 非磁性金属涡流 ■:电磁膜厚计■:涡流膜厚计F:费舍尔镜:可附带条件? ※不锈钢材质有时不能根据条件进行测定。请事先咨询。□空栏部分的组合可能会有一部分可以测定。请咨询。 ■附属?选配标准板一览(产品附带的标准板与下表不同,是实测的近似值) 容器种类 张数 厚度(μm) 材质 LE-200J/LZ-200J 6 10 50 100 350 800 1000 LH-200J 5 10 50 100 350 800 LE-373/LZ-373 6 10 50 100 500 1000 1500 LH-373 5 10 50 100 500 1000 聚酯薄膜 LZ-990 3 50 100 1000 所有设备类型通用选项 ー 10 25 37 50 75 100 125 250 300 350 500 700 800 1000 1500 类型 钢笔型探头(标准附属):LEP-J/LHP-J 管内面测定用探头(选配件):LEP-22 对应器种类 LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373 LE-200J 尺寸 类型 L型探头(选配件):LEP-21L 对应器种类 LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373 测定方式 容器种类 规格 电磁感应式 LE-200J LE-373 JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376 涡流式 LH-200J LH-373 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376 双重 LZ-200J LZ-373 电磁感应式时 JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 类型 LZ-990 涡流式的情况 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376电磁膜厚计LE-200J
主要规格
测量方式 电磁感应式 测量目标 磁性金属上的非磁性涂层 测量范围 0-1500μm或60.00密耳 测量精度 小于15μm:±0.3μm,15μm或以上:±2% 解析度 小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1.0μm 符合标准 JIS K5600-1-7,JIS H8501,JIS H0401 / ISO 2808,ISO 2064,ISO 1460,ISO 2178,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,ASTM E 376 统计功能 测量次数,平均值,标准偏差,最大值,最小值,程序段号 探测 单点接触恒压型(LEP-J) 显示方式 数字(LCD,最小显示位数0.1μm) 外部输出 RS-232C接口(传输速度2400bps) 电源供应 AC100V(50 / 60Hz)或电池1.5V(AA碱性)主机x 6,打印机x 4 尺寸/质量 120(W)x 250(D)x 55(H)毫米,1.0公斤 配件 标准板(10μm,50μm,100μm,350μm,800μm,1 mm,所有近似值,各1张),铁底座,标准板盒,电池1.5 V(AA碱性),AC适配器,探针适配器,打印机纸,携带案件 选项 L型探头(LEP-21L),RS-232C连接电缆,数据管理软件“ Data Logger KLD-01”,“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Standard”,“ McWAVE Professional”,“ MultiProp” 1次线圈电压的变化子文件电压的变化被膜厚计的种类分类/可测量的基底和涂层
■探测一览
■膜厚计适用规格一览
电磁膜厚计LE-200J